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| 測試連結(jié)是否不良? |
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來源：富士特電氣 人氣：2454 發(fā)布時間：2012-08-25
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在測試的過程中，可能會發(fā)生待測物未接觸或接觸不良的情況，尤其在重視效率的生產(chǎn)線上更容易發(fā)生。未接觸、接觸不良、測試線破損或短路的待測物在測試時，會將不良品被判定為良品或使設(shè)備損害，造成不必要的風(fēng)險(xiǎn)成本。因此有些安規(guī)測試設(shè)備會以電流限制的檢測(Low limit or high limit)來判斷是否有不當(dāng)接觸，但此法之干擾因素過多，無法有效判斷。優(yōu)良的安規(guī)測試設(shè)備會以更精密的判斷方法(OSC)，有效過濾短路待測物或判斷電路接觸不良，節(jié)省廠商生產(chǎn)成本。
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